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Comunicación: An asymptotic lack-of-fit test for multiple quantile regression Congreso: XIX Conferencia Española de Biometría (CEB) y VIII Encuentro Iberoamericano de Biometría (EIB) Ámbito: Internacional Lugar: Vigo (España) Fecha: 27-06-2023/30-06-2023 Authors/participants: Conde Amboage Mercedes (Coautor) and Sánchez Sellero César Andrés (Coautor) |
Ficha Comunicacion